控制图是对过程质量特性值进行测定、记录和评估，并监察过程是否处于控制状态的一种用统计方法计算、设计的示图。图上有用实现绘制的中心限（CL）、用虚线绘制的上控制限（UCL）和下控制限（LCL），图中有按时间顺序抽取的样本统计量数值的描点序列，各点之间用直线段相连，可看出点的变化趋势。
中心限（CL）、上控制限（UCL）和下控制限（LCL）统称控制限，它们是相互平行的。若控制图中的描点落在控制限之外或描点在控制限之间不随机，则表明过程异常。世界上第一张控制图是上文中提到的沃特·阿曼德·休哈特（Walter A. Shewhart）在1924年提出的不合格品率控制图（p图）。
下图为p图的一个示例。
在各种控制图中，均值和极差图（X(—)和R图）使用最多。以下是SPC手册给出的均值和极差图的示例。
使用控制图的步骤分为四步：
收集数据
建立控制限
统计上受不受控的解释
为了持续控制延长控制限
以均值图为例，下图比较了均值受控和不受控在图中的表现。
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